EMI近場測試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測試中的一個重要組成。EMI機構(gòu)使用EMI接收機和經(jīng)過準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來測試3或10米距離上的被測設(shè)備(DUT)，這稱為遠(yuǎn)場測量。
電磁場的特性主要由被測設(shè)備(DUT)以及它與接收機和天線的距離決定。遠(yuǎn)場輻射發(fā)射測量可以準(zhǔn)確地告訴我們被測器件是否符合相應(yīng)的EMC/EMI標(biāo)準(zhǔn)。
但是，遠(yuǎn)場測試也有一些局限性。它無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于USB、LAN之類的通信接口，還是來自殼體的縫隙，或來自連接的電纜乃至電源線。在這種情況下，我們只能使用頻譜分析儀和近場探頭，通過近場測試來定位這些發(fā)射源。
EMI近場測試是一種相對量測試，這意味著它需要把被測器件的測試結(jié)果與基準(zhǔn)器件的測試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測被測器件通過一致性測試的可能性。
需要注意的是，直接比較近場測試結(jié)果與EMI標(biāo)準(zhǔn)測試極限是沒有意義的，因為測試讀數(shù)受許多因素的影響，包括探頭位置和被測器件的形狀等。
近場探頭的類型：
電磁場是由電場和磁場構(gòu)成。在近場，電場和磁場共同存在，其強度不構(gòu)成固定關(guān)系，所以EMI近場測試使用的近場探頭分為電場探頭和磁場探頭兩種。
選擇近場探頭往往要考慮幾個重要因素，包括分辨率、靈敏度和頻率范圍等。
近場探頭的靈敏度不是一個指標(biāo)，關(guān)鍵是看探頭和配合使用的頻譜分析儀或者接收機能不能容易的測量到輻射泄漏信號，并且有足夠的裕量去觀察改進(jìn)后的變化。
如果頻譜儀的靈敏度很高，我們可以選擇靈敏度相對較低一些的探頭。反之就必須選擇靈敏度高的探頭，甚至考慮外接前置放大器提高整體系統(tǒng)的靈敏度。
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更新時間：2022-10-11 
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